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製品の性能・信頼性・安全性を評価するためのさまざまな試験における計測は従来、ひずみゲージや加速度センサーといった1次元のポイント計測が用いられていました。こうした昔ながらの手法では、準備や後処理に膨大な工数を要するだけでなく、設計時に予測していなかった箇所の応力集中を取り漏らす可能性があるという課題がありました。
デジタル画像相関法(DIC)とは物体表面に描かれた変形前後のランダムパターン画像をカメラで撮影することにより、物体表面の変位やひずみを対象の全領域において計測・評価し、分布と画像で可視化する手法です。CAEが設計プロセスにおける一般的な道具となった今、その結果を現物で実証する手法として、学術領域から産業界まで広く利用されております。
本セミナーでは、JTL (JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社)様の試験設備をお借りして、3DでのDIC計測システムARAMISによる試験計測を実施する手法をご紹介します。現物の試験と3DでのDIC計測の様子をデモンストレーションでご覧いただき、その有用性を体感頂く対面式セミナーです。最新モデルARAMIS 1による実機デモもご覧いただけます。
13:30~14:00 イントロダクション (丸紅I-DIGIO / JTL様)
14:00~14:40 デモンストレーション①(材料試験/電子基板の振動試験)
14:40~15:00 休憩・質疑応答・意見交換会
15:00~15:40 デモンストレーション②(材料試験/電子基板の振動試験)
15:40~16:30 質疑応答・意見交換会・順次流れ解散
※デモンストレーションは2グループに分かれてご覧いただきます
※当日変更の可能性あり
・製造業・土木建築などの分野で設計・研究開発・実験業務に携わる方
・大学・公的機関の工学分野の研究者
・力学シミュレーション・CAEに関連する業務に携わる方
・ひずみ計測・変位計測に関心のある方
・3D測定・DIC(デジタル画像相関法)に関心のある方
| 開催日時 | 2026年1月16日（金）13:30～16:30 | |
| 開催場所 | JTL 神奈川事業所 〒243-0425 神奈川県海老名市中野3-12-11（JR 相模線 社家駅より徒歩約 10 分） ※会場へのアクセス：https://jtla.co.jp/asset/pdf/office_access_kanagawa.pdf ※駐車スペースに限りがありますので、公共交通機関をご利用ください |
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| 出展製品 | ARAMIS 1, ARAMIS SRX | |
| 参加費 | 無料（事前登録制） | |
| 定員 | 10名（満席になり次第締め切らせて頂きます） | |
| 主催 | 丸紅I-DIGIOグループ 製造ソリューションセグメント 丸紅情報システムズ株式会社 | |
| お問い合わせ先 | ご不明な点等ございましたら、以下宛先までご連絡頂けますと幸いです。 丸紅I-DIGIOホールディングス株式会社 経営戦略本部 事業戦略部 E-Mail：DM@marubeni-idigio.com |
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| 備考 | ※当日、ご本人確認のためお名刺を頂戴致したく存じますのでお持ち頂けますと幸いです。 | |